電界を生成する電荷から離れるにつれて、この電界の強度が低下することがわかっています。 ただし、この変動がどのように発生するかはまだわかりません。 それでは、電界強度をソースの電荷、媒体、および距離に関連付けることができる方程式を探しましょう。
点光源電荷について考えてみましょう Q、 真空中、および耐荷重 何、距離で区切られています d. であること P 上の図に示すように、テスト荷重が配置されている幾何学的な点。
次の方程式があります。
式1を式2に代入すると、次のようになります。
方程式は次のことを示しています。
-電界の強さは、ポイントからの距離の2乗に反比例します P ソースロードへ Q.
-電界の強さ P 耐荷重値に依存しません 何、これは上記の控除でキャンセルされたため。
-電界強度は、ソース負荷を取り巻く環境によって異なります。
以下の例を見てみましょう。
点状の電荷 Q = 3 x 10-10 Ç 真空中で電界を発生させます。 それから3mm以内の強度を決定します。 採用 k0 = 9 x 109 SI単位。
解決：
d = 3 mm = 3 x10にする必要があります-3 m、SIに取り組む。
ドミティアーノ・マルケス
物理学を卒業
ソース： ブラジルの学校- https://brasilescola.uol.com.br/fisica/campo-eletrico-uma-particula-eletrizada.htm
